A) Reactividad química B) Resistencia mecánica C) Morfología de la superficie D) Conductividad térmica
A) Evaluación de la resistencia a la corrosión B) Determinación del módulo de Young C) Medición de la granulometría D) Identificación de grupos funcionales en un material
A) Dureza B) Viscosidad C) Densidad D) Flujo de calor
A) Análisis de las propiedades magnéticas B) Evaluación de la resistencia a la corrosión C) Determinación de las propiedades ópticas D) Medición de los cambios de masa en función de la temperatura
A) Dispersión dinámica de la luz (DLS) B) Difracción de rayos X (DRX) C) Espectroscopia ultravioleta-visible (UV-Vis) D) Microscopía electrónica de transmisión (TEM)
A) Resistividad eléctrica B) Estabilidad química C) Propiedades mecánicas en función de la temperatura D) Transparencia óptica
A) Microscopía de fuerza atómica (AFM) B) Espectroscopia Raman C) Espectroscopia ultravioleta-visible (UV-Vis) D) Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X (XPS)
A) Composición elemental B) Dureza C) Conductividad térmica D) Susceptibilidad magnética
A) Espectroscopia de energía dispersiva de rayos X (EDS) B) Análisis Mecánico Dinámico (AMD) C) Microscopía electrónica de barrido (SEM) D) Análisis termogravimétrico (TGA)
A) Reactividad química B) Resistencia mecánica C) Conductividad térmica D) Estructura electrónica y transiciones
A) Microscopía de fuerza atómica (AFM) B) Análisis Mecánico Dinámico (AMD) C) Espectroscopia Raman D) Espectroscopia de energía dispersiva de rayos X (EDS)
A) Resistividad eléctrica B) Parámetros de red C) Dilatación térmica D) Estructura y dinámica químicas
A) Propiedades acústicas B) Reactividad química C) Composición de la superficie D) Susceptibilidad magnética
A) Análisis de flash láser (LFA) B) Espectroscopia infrarroja por transformada de Fourier (FTIR) C) Microscopía de fuerza atómica (AFM) D) Espectroscopia de energía dispersiva de rayos X (EDS)
A) Medición de la dureza y el módulo elástico B) Evaluación de la estabilidad térmica C) Análisis de la composición química D) Visualización de la topografía de la superficie
A) Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X (XPS) B) Análisis Mecánico Dinámico (AMD) C) Calorimetría diferencial de barrido (DSC) D) Espectrometría de masas con plasma de acoplamiento inductivo y ablación por láser (LA-ICP-MS)
A) Enlace químico y estructura electrónica B) Transparencia óptica C) Propiedades mecánicas D) Conductividad térmica
A) Análisis de flash láser (LFA) B) Pruebas de polarización potenciodinámica C) Nanoindentación D) Dilatometría
A) Composición elemental de la superficie B) Propiedades mecánicas C) Estabilidad química D) Conductividad térmica
A) Espectroscopia B) Pruebas de tracción C) Valoración D) Cromatografía
A) Estudiar las propiedades magnéticas B) Para determinar las propiedades térmicas C) Para medir la distribución del tamaño de las partículas D) Para analizar la cristalinidad
A) Fluorescencia de rayos X B) Espectroscopia UV-Vis C) Espectrometría de masas D) Nanoindentación
A) Espectroscopia Raman B) Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X C) Microscopía de fuerza atómica D) Cromatografía de permeación en gel
A) Control analítico de fracturas B) Modulación de frecuencia acústica C) Microscopía de fuerza atómica D) Modo de fragmentación acelerada
A) Refracción de metales nobles B) Resistencia microbiana natural C) Resolución de medición nanométrica D) Resonancia magnética nuclear
A) Dominios magnéticos B) Electrones no apareados C) Iones de hidrógeno D) Enlaces químicos |